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進(jìn)口臺(tái)式掃描電鏡以其小巧的體積、高分辨率和易于操作等特點(diǎn)，在材料科學(xué)、生物學(xué)、礦物學(xué)等眾多領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。一、樣品制備（一）塊狀樣品?表面處理對(duì)于硬度較高的金屬、陶瓷等塊狀樣品，先要用砂紙從粗到細(xì)逐步打磨表面，以獲得平整光滑的表面。打磨后，可以用拋光膏對(duì)樣品表面進(jìn)行拋光處理，去除打磨痕跡，使表面粗糙度達(dá)到納米級(jí)水平。對(duì)于軟質(zhì)塊狀樣品，需要采用特殊的打磨工具和試劑。?導(dǎo)電性處理（針對(duì)非導(dǎo)電樣品）?膠帶、塑料等非導(dǎo)電樣品在進(jìn)行SEM觀察前，通常需要進(jìn)行導(dǎo)電處理。金屬膜可以采用...

在工業(yè)生產(chǎn)中，對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量進(jìn)行檢測(cè)是至關(guān)重要的。傳統(tǒng)的破壞性測(cè)試方法雖然能夠在一定程度上檢測(cè)出產(chǎn)品的缺陷，但會(huì)直接破壞產(chǎn)品，導(dǎo)致材料或零部件無(wú)法再次使用。工業(yè)X-ray檢測(cè)設(shè)備作為非破壞性測(cè)試技術(shù)的重要工具，為工業(yè)生產(chǎn)帶來(lái)了諸多優(yōu)勢(shì)。一、保留產(chǎn)品完整性?1、材料與零部件的可再利用性在航空航天領(lǐng)域，對(duì)于一些關(guān)鍵零部件，采用傳統(tǒng)破壞性測(cè)試方法會(huì)使葉片報(bào)廢。而工業(yè)X-ray檢測(cè)設(shè)備能夠穿透金屬材質(zhì)，檢測(cè)葉片內(nèi)部是否存在鑄造缺陷、裂紋等問(wèn)題，同時(shí)葉片可以繼續(xù)正常使用或進(jìn)一步加工。這大大...

新能源汽車(chē)行業(yè)的蓬勃發(fā)展，對(duì)電池、電機(jī)和電控系統(tǒng)等關(guān)鍵部件的安全性和性能提出了更高要求。工業(yè)CT檢測(cè)作為一種先進(jìn)的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，憑借其高精度、直觀性和透視能力，在新能源汽車(chē)行業(yè)中發(fā)揮著越來(lái)越重要的作用。一、工業(yè)CT檢測(cè)在新能源汽車(chē)行業(yè)的應(yīng)用電池系統(tǒng)檢測(cè)新能源汽車(chē)的電池系統(tǒng)是其核心部件之一，其安全性和性能直接影響車(chē)輛的續(xù)航里程、加速性能以及整體安全性。工業(yè)CT檢測(cè)能夠精確檢測(cè)出電池內(nèi)部的缺陷，如金屬異物、極片翻折、極耳焊接問(wèn)題以及顆粒污染等，這些缺陷可能?chē)?yán)重影響電池的性能和安全...

在當(dāng)今高度發(fā)達(dá)的工業(yè)生產(chǎn)領(lǐng)域，產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定性和可靠性是關(guān)鍵因素。而工業(yè)X光機(jī)檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)技術(shù)作為一項(xiàng)無(wú)損檢測(cè)手段，正日益發(fā)揮著舉足輕重的作用，為工業(yè)質(zhì)量控制提供了強(qiáng)大的支持。工業(yè)X光機(jī)檢測(cè)設(shè)備基于X射線的穿透性、穿透深度和與物質(zhì)相互作用的特性，能夠深入到物體內(nèi)部，無(wú)損地檢測(cè)物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷。在制造業(yè)中，該技術(shù)可對(duì)各類(lèi)零部件進(jìn)行全面的內(nèi)部質(zhì)量檢測(cè)。通過(guò)工業(yè)X光機(jī)檢測(cè)，可以準(zhǔn)確發(fā)現(xiàn)這些部件內(nèi)部是否存在鑄造缺陷、裂紋、氣孔等問(wèn)題，從而在生產(chǎn)過(guò)程中及時(shí)淘汰不合格產(chǎn)品，避免將質(zhì)量...

臺(tái)式掃描電子顯微鏡作為一種高精度的微觀觀測(cè)設(shè)備，在材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)等眾多領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。然而，在長(zhǎng)期使用過(guò)程中，SEM難免會(huì)出現(xiàn)一些故障。了解常見(jiàn)故障及其維護(hù)方法，對(duì)于保障設(shè)備的正常運(yùn)行和延長(zhǎng)使用壽命至關(guān)重要。一、常見(jiàn)故障（一）圖像質(zhì)量問(wèn)題?圖像模糊：這是較為常見(jiàn)的問(wèn)題之一。可能原因包括樣品表面不平整、電子束對(duì)中不準(zhǔn)、透鏡系統(tǒng)污染或損壞等。?圖像噪聲大：通常由電子槍不穩(wěn)定、探測(cè)器故障、環(huán)境干擾等因素引起。（二）加速電壓和束流異常?加速電壓不穩(wěn)定：可能是高壓電源模塊...

全自動(dòng)臺(tái)式掃描電鏡是一種廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、化學(xué)以及納米技術(shù)等領(lǐng)域的重要分析工具。與傳統(tǒng)的臺(tái)式掃描電鏡相比，在性能和操作上都具有明顯的優(yōu)勢(shì)，特別是在自動(dòng)化程度和圖像質(zhì)量的提升上，使其在各個(gè)科研和工業(yè)領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。一、性能特點(diǎn)1、高分辨率與圖像質(zhì)量擁有出色的分辨率，通?？蛇_(dá)到納米級(jí)別，這使得它能夠清晰地觀察樣品的微觀結(jié)構(gòu)。借助電子束掃描技術(shù)和高性能的探測(cè)器，它能夠獲取清晰的二次電子圖像和反射電子圖像，提供精確的表面形貌分析。2、自動(dòng)化操作特點(diǎn)之一就是其高度自動(dòng)化...